Strategische Kooperation zwischen YXLON International und MIRTEC

HAMBURG, DEUTSCHLAND, 5. Mai 2015 — MIRTEC, weltweit führend in der 3D-AOI-Technologie, und YXLON International, der führende Spezialist für industrielle Röntgen- und Computertomografie (CT), kündigen eine neue strategische Kooperation an, die zur Ertragssteigerung in der elektronischen Fertigungsindustrie führen wird.

YXLON International und MIRTEC bieten das ultimative Instrument zur Ertragssteigerung an: SmartLoop. Es beseitigt die Barrieren zum echten Prozessmanagement in der elektronischen Fertigungsindustrie. Indem das MIRTEC Inline-3D-AOI-System mit den YXLON Mikrofokus-Röntgensystemen – beginnend mit der FeinFocus-Produktlinie - verbunden und mit einem starken Management-Informationssystem kombiniert wird, werden fehlerverdächtige Teile, die inline nicht vollständig geprüft werden können (wie BGA, QFN etc.), automatisch mit industriell führender Technologie inspiziert, inklusive verdeckter Lötstellen. 

Sämtliche Ergebnisse, Daten und Bilder, einschließlich der SPI-Daten, werden auf einem einzigen Bildschirm dargestellt. Das ermöglicht präzise Entscheidungen auf der Grundlage vollständiger Details. Durch das Tracking von Trends können Techniker zudem Akzeptanzgrenzen in der 3D-AOI und der SPI anpassen, um die Prüfgenauigkeit zu erhöhen. Sämtliche Daten werden an einer Stelle gespeichert. Das gewährleistet lückenlose Rückverfolgbarkeit und ermöglicht es, Tendenzen zu überwachen und Berichte zu erstellen. Das Ergebnis: eine erhebliche Ertragssteigerung. Denn die Zahl der Fehlalarme ebenso wie die des nicht entdeckten Ausschusses kann dramatisch gesenkt werden.

Durch die Kombination der Stärken des marktführenden Inline-3D-AOI-Systems mit der Schnelligkeit und Genauigkeit des Atline-Röntgensystems, mit dem sich verdeckte Lötstellen bei z.B. BGS, CSP, QFN usw. betrachten lassen, wird der Herstellungsprozess fortlaufend und automatisch verbessert. „Die Details, die das YXLON System zusammen mit den Mirtec-Daten in einem einzigen System liefert, werden dem Anwender zum ersten Mal ermöglichen, intelligente, fakten-basierte Entscheidungen zu generieren. Das wird die Erträge signifikant verbessern und Kosten senken“, wie Stefan Moll, Geschäftsführer YXLON International, erklärt. „Das ist ein gewaltiger Schritt in Richtung Datenintegration und Prozessmanagement auf dem Weg zu Industrie 4.0.“

„Mit unserer Intelli-Sys und Intelli-Track-Software steht Mirtec bei Software zur Verbesserung des Prüfprozesses an der Spitze. Viele unserer Kunden kommen bereits in den Genuss verminderter erforderlicher Arbeitskraft und höherer Erträge“, erklärt Chan Wa Pak, CEO der Mirtec Co., Ltd. „Die Kooperation zwischen einem weltweit führenden Röntgenpartner und einem innovativen Softwareunternehmen war der natürliche nächste Schritt, um unseren Kunden nicht nur eine Lösung zu bieten, mit der sie Fehler finden, sondern um ihnen Mittel an die Hand zu geben, mit denen sie Fehler von vornherein vermeiden.“

Kontakt:
Gina Naujokat (Marketing Communications), T.: +49 40/52729-404, gina.naujokat@hbg.yxlon.com

Über MIRTEC:
MIRTEC ist als Lieferant automatisierter Prüfsysteme für die elektronische Herstellungsindustrie weltweit führend. Mirtec zeichnet sich als einziges Prüfunternehmen aus, das seine eigenen Kameras entwirft und herstellt. So erhalten die Kameras einen Spitzen-Technologievorsprung bei der Bildqualität. Auch beim Einsatz der neuesten Quanten-High-Definition-3D-Moiré-Sensoren (QHD) ist Mirtec einzigartig. Diese Sensoren liefern Mirtec unerreichte Genauigkeit und ebenso beispiellosen Detailreichtum während des 3D-Prozesses. 
Die Firmenzentrale von Mirtec liegt in Seoul, Südkorea. Auch die Hauptfertigungsanlage befindet sich in Hauptstadtnähe. Mit 12 weltweiten Mirtec-Supportzentren und mehr als 50 ausgebildeten Vertriebspartnern bietet Mirtec seinen Kunden die denkbar beste Support-Infrastruktur. Mit mehr als 24 Auszeichnungen ist Mirtec seit Langem anerkannter Weltmarktführer in der Prüftechnologie.
Weitere Informationen erhalten Sie auf unserer Webseite: www.mirtec.com.