GIE Media's Roundtable 'Today's Metrology' with Yxlon's Dirk Steiner

Dirk Steiner, Business Development Manager bei Yxlon, beschäftigt sich seit 2004 intensiv mit der industriellen Computertomografie und hat mehr als 1.000 Datensätze gescannt und analysiert. Hier haben Sie die Gelegenheit, sich die Aufzeichnung des Today's Metrology Live-Webinars von GIE Media anzusehen und hören, wie anspruchsvolle Metrologie-Aufgaben mit Computertomografie zuverlässig gelöst werden. Yxlon war zusammen mit Herstellern anderer Technologien im Zusammenhang mit der Messtechnik vertreten, um einen umfassenden Überblick über die Lösungen zu bieten.
 
Dirk sprach über die neuesten Trends in der Messtechnik unter Verwendung der industriellen Computertomografie (CT) und darüber, dass Daten der Schlüssel sind, um die Informationen zu erhalten, die Hersteller benötigen, um ihre Effizienz zu steigern und Kosten zu senken. Das Wichtigste für die Hersteller ist die hohe Qualität ihrer Produkte. Am 'runden Tisch' diskutierten fünf Teilnehmer, wie ihre Lösungen die Produzenten dabei unterstützen können. Das Messen und Analysieren interner Strukturen ist allerdings nur mit CT möglich.   
 
Auf eine der gestellten Fragen antwortete Dirk: "CT ist eine nicht taktile Methode, sodass wir die Geometrie im Prozess nicht verändern. Wir können die inneren Strukturen sehen, und mit dem großen Trend zur additiven Fertigung gibt es heute keine Grenzen mehr, was man entwerfen und drucken kann. Mit CT können wir in das Innere schauen und Dinge messen, die entweder hinterschnitten oder sogar im Inneren des Teils versteckt sind. Darüber hinaus erhalten wir auch Daten von Defekten, internen Defekten, die an sich nichts mit der Messtechnik zu tun haben. Wir schlagen also zwei Fliegen mit einer Klappe."

 
 
Klicken Sie hier, um sich die Aufzeichnung der Diskussion anzusehen, angespornt durch viele interessante Fragen aus dem Publikum.



Media relations
Gina Naujokat
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