Neuer Detektor - YXLON ORYX1616

Halbleiterbauelemente sind als elektronische Bauteile die Schlüsselelemente eines Großteils der elektronischen Systeme. Aufgrund ihrer Kompaktheit und Dichte erfordert ihre Prüfung eine maximale Bildauflösung bei geringer Leistung und niedriger Spannung.

Schnellere Prüfungen mit dem neuen Detektor
  • Der vergrößerte Inspektionsbereich (1280 x 1280 Pixel) bedeutet eine Erweiterung von 50 % verglichen zur Vorversion
  • Bessere Übersicht und schnellere Arbeitsprozesse aufgrund reduzierter Anzahl von Schritten in automatisierten Abläufen
Beispiel: LED
  • In nur einem Schritt IO/NIO-Entscheidung für vier LED-Boards
Langzeitstabilität bei 24/7-Einsatz und hohe Bildqualität bei niedriger Röntgendosis
  • Optimierte Elektronik für hohe Geschwindigkeit und Langzeitstabilität bei 24/7-Einsatz
  • Lange Lebenszeit aufgrund der Strahlenresistenz des Detektors
  • Hervorragendes Kontrast-Rausch-Verhältnis
  • Durch die hohe Sensitivität sind Prüfungen bei reduzierter Strahlung möglich.
  • Minimierte Beschädigung empfindlicher Bauteile aufgrund von geringeren kV und niedrigerer Leistung bei gleicher Bildqualität im Vergleich zu anderen Detektoren 
  • Mit dem optionalen Dose Reduction Kit kann die Strahlendosis bei empfindlichen Komponenten noch zusätzlich reduziert werden.